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2020-11-022020-05-192021-02-252022-08-29誤差期設置：50%、10%、1%（0）；
充電電壓：0～5.5kV；
計時器量程：1-99.99s；
電壓表量程：0-5kV；
計時分辨率：0.01s；
顯示：指針式充電電壓表（右）、指針式試樣電壓表（左）、數顯計時器（中），彩色LED燈指示各個操作進程；
測試模式：手動、自動（只能測試從5kV開始的衰減）；
自動測試次數：1-9次；
測試時間間隔：1-25秒；
輸入電源：86-264VAC，50/60Hz。
406D裝備的磁吸棒用于薄膜和布疋資料的測驗；金屬夾具能夠測驗較厚的塊狀物、發泡物或其他形狀和質地的資料。選配IC管型夾具能夠無損測驗IC芯片包裝管；選配806B無損測驗電極能夠直接放置在試樣上，還能夠測驗粉體和液體靜電衰減時刻。
配套法拉第測驗籠供給一個屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內進行測驗，法拉第籠經過配套銜接線銜接406D主機。法拉第籠具有互鎖設備，翻開法拉第籠時，高壓電源輸出被堵截。
STM-2驗證模塊供給一個規范的電阻，電容直接采取體系電容。經過測驗STM-2規范模塊能夠驗證是不是正常。
法拉第籠內的靜電壓探測頭能夠卸下，放置在806B無損電極上后，能夠直接測驗粉體、液體和固體試樣。
美國無紡布靜電衰減測試標準IST 40.2(01)，，中國GB 19082，GJB2625
訂購標準配置：
406D測試主機；
磁性固定電極；
法拉第測試籠；
條形夾具；
STM-2驗證模塊。
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